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場效應管失效分析（華南檢測案例分析）

場效應管（FET）作為現代電子設備中不可或缺的組件，以其高輸入電阻、低噪聲、低功耗等優勢，在半導體器件領域占據著重要地位。然而，即使是這樣高效的元件，也難免會遇到失效問題。最近，廣東省華南檢測技術有限公司就對一起汽車客戶產品中發現的場效應管短路問題進行了深入分析。

通過對兩個不良品的外觀檢查，發現其中一個樣品表面存在炸裂后的開孔，而另一個則無明顯異常。進一步的X-Ray檢查揭示了問題的嚴重性：一個樣品的源極線被燒斷，顯示出電過應力（EOS）的跡象。電性能測試確認了兩個樣品均出現了電阻性短路。

化學開封分析進一步確認了EOS的存在，而深入的2D-3D X-RAY檢測揭示了短路的根本原因：銀膠爬上了芯片表面，導致了短路現象。最終確認，柵極表面鋁層的炸裂飛濺是由于過電流EOS，而銀膠粘面則是鋁層突發短路的直接原因。

這次失效分析不僅揭示了場效應管失效的具體原因，也為未來的檢測工作提供了寶貴的經驗。要有效識別電阻性短路問題，需要提高X-ray設備的分辨率和對比度，并通過多角度拍攝來捕捉異常情況。廣東省華南檢測技術有限公司憑借其專業的檢測技術和先進的進口檢測設備，為電子元件的可靠性檢測和失效分析提供了強有力的支持。

在電子行業快速發展的今天，對電子元件的質量和可靠性要求越來越高。廣東省華南檢測技術有限公司的這次分析案例，不僅展示了其在電子元件失效分析領域的專業能力，也為行業提供了一個提高產品質量和可靠性的參考。通過不斷的技術創新和服務優化，華南檢測技術有限公司致力于幫助客戶降低產品失效風險，提升市場競爭力。

下面就是廣東省華南檢測技術有限公司如何進行場效應管失效分析流程和分析的案例。

某汽車客戶在同批次產品中發現2PCS短路不良品，根據要求分析其短路原因。

一、場效應管失效分析流程

1.OM顯微鏡外觀檢查

通過OM顯微鏡觀察，外觀檢查2#表面有炸裂后形成的開孔。其他無明顯異常。

1#樣品外觀圖

2#樣品外觀圖

2.X-Ray檢查

X-ray檢查1#無明顯外觀異常，但是2#明顯可見源極線被燒斷，具有EOS的表現。

1#樣品X-Ray 形貌圖

2#樣品X-Ray 形貌圖

3.電性能分析

電特性曲線測試：2PCS 不良品均為IDSS，IGSS電阻性短路。

1#電性曲線圖

2#電性曲線圖

4.化學開封分析

對1#，2#不良品做化學開封分析，結果顯示為EOS壞品。

1#樣品開封后形貌圖

2#樣品開封后形貌圖

5.2D&3D X-RAY檢測的深入分析

2D&3D X-RAY檢測：2#圖中陰影其實不是錫，而是銀膠，已經爬上了Die面，造成短路。

2#樣品深入分析

6.最終確認

2#柵極表面鋁層炸裂飛濺是其發生過電流EOS的根本原因，而銀膠粘面又是鋁層突發短路的根本原因。粘面的銀膠分布在柵極表面與漏極邊緣，兩極之間僅靠鈍化層隔絕，在鈍化層突然被擊穿后，柵極電位陡增，造成漏極和源極以極低電阻導通，從而造成了過電流，使得芯片和源極導線燒毀熔斷。

2#樣品最終確認

二、場效應管失效分析結論

1. 1#不良品的失效部位和現象與2#類似，應該是同樣失效機理和表現，只是因為銀膠量更少，X-RAY不能發現異常。而化學開封過程中已經將銀顆粒蝕去，只留下明顯的burn mark和碳化膠粉。無法再進行確認。

2. 對此類電阻性短路壞品的分析方法需要提高X-ray機的分辨率和對比度，從多側面以最佳角度拍攝才能捕捉到異常進行確認。

華南檢測：http://www.exksm.cn/websiteMap

廣東省華南檢測技術有限公司專注于工業CT檢測\失效分析\材料檢測分析的先進制造實驗室，設立了無損檢測、材料分析、化學分析、物理分析、切片與金相測試，環境可靠性測試等眾多實驗室，為您提供—站式材料檢測，失效分析及檢測報告，如您有工件需要做工業CT檢測，您可以給出工件大小、材質、重量，檢測要求，我們評估后會給到一個合理的報價。