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SEM-EDS分析掃描電鏡可應用于材料高分辨成像、電子產品如PCB板/FPC、半導體，光電材料、通訊行業材料形貌/腐蝕/微污染分析，微區元素打點分析/特定元素沿深度方向的線掃描，元素的面分布。 -
X射線熒光分析儀X射線熒光光譜（XRF）具有干擾小、分析速度快、并且可以同時進行多元素分析等優點，是固體物質成分分析的常規檢測手段，也是一種重要的表面/表層分析方法。 -
XRD X射線衍射儀XRD全稱X-Ray Diffraction，即X射線衍射。X射線衍射分析法是研究晶體材料物相和晶體結構的主要方法。通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。 -
EDX 能量色散X射線光譜儀EDX，全稱Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy，能量色散型X射線光譜儀。EDX的原理是利用試樣發出的元素特征X射線波長和強度大小，分析測定試樣中可能含有的元素。通過對比不同元素譜線的強度可以測定試樣中元素的含量。 -
SEM電鏡測試華南檢測SEM電鏡測試服務提供高分辨率成像和深入的元素分析。適用于材料科學、半導體制造等領域。
