專注于工業(yè)CT檢測(cè)\失效分析\材料檢測(cè)分析的第三方實(shí)驗(yàn)室
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您當(dāng)前的位置： 鍍層厚度分析
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鍍層是為了好看或儲(chǔ)藏而涂在某些物品上的金屬表面涂上一層塑料，或者一層稀薄的金屬或?yàn)榉略炷撤N貴重金屬，在普通金屬的表面鍍上這種貴重金屬的薄層。鍍層厚度測(cè)試檢測(cè)材料表面的金屬和氧化物覆層的厚度測(cè)試。 檢測(cè)目的：檢測(cè)材料表面的金屬覆蓋層的厚度及其均勻性 檢測(cè)范圍：鍍層、涂層、化學(xué)生成膜等 |   |
鍍層厚度分析-測(cè)試方法
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金相法：利用金相顯微鏡原理，對(duì)鍍層厚度進(jìn)行放大，以便準(zhǔn)確的觀測(cè)及測(cè)量。
庫侖法：利用適當(dāng)?shù)碾娊庖宏枠O溶解精確限定面積的覆蓋層，電解池電壓的急劇變化表明覆蓋層實(shí)質(zhì)上完全溶解，經(jīng)過所耗的電量計(jì)算出覆蓋層的厚度。因陽極溶解的方法不同，被測(cè)量覆蓋層的厚度所耗的電量也不同。
X-ray 方法：X射線光譜方法測(cè)定覆蓋層厚度是基于一束強(qiáng)烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產(chǎn)生離散波長(zhǎng)和能量的二次輻射，這些二次輻射具有構(gòu)成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質(zhì)量(若密度已知，則為覆蓋層線性厚度)和二次輻射強(qiáng)度之間存在一定的關(guān)系。
鍍層厚度分析-測(cè)試步驟
————————————————————————————————————————————————————取樣→清洗→真空鑲嵌→研磨→拋光→微蝕(如有必要)→噴金(如有必要)→觀察
鍍層厚度分析-檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
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CMA/CNAS資質(zhì)認(rèn)可
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